[Nuevo] ZEISS Metrotom 1500

Mediciones de Rayos X en 3D para el Control de Calidad
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La familia ZEISS METROTOM ofrece tecnología de TC confiable para el control de calidad durante doce años. La tercera generación del sistema de tomografía computarizada (TC) ZEISS METROTOM 1500 proporciona la mejor prueba de que la tecnología avanzada y confiable de rayos X ya no es una visión del futuro. Puede probar su control de calidad en el futuro, hoy.

Con un sistema de tomografía computarizada industrial de ZEISS, usted mismo puede realizar con éxito trabajos de medición e inspección con solo un escaneo de rayos X. La prueba de aceptación estándar, la ingeniería de precisión y el sofisticado proceso de calibración aseguran la trazabilidad del sistema. Las guías lineales y la mesa giratoria satisfacen las más altas exigencias de precisión de los clientes.

                    Accesorios_168x168.jpgMejor calidad de Imagen

Gracias a un detector 3k de alta resolución.
Descubre incluso pequeños detalles con alta resolución. Un objeto con 15 cm de diámetro se puede reconstruir con un tamaño de voxel de 50 μm.


Mayor velocidad de escaneo

El tiempo de escaneo puede reducirse masivamente por diferentes modos de operación del detector hasta en un 75% con un tamaño de voxel comparable.


Diseño inteligente

Más pequeño, flexible, inteligente.
La huella reducida de solo 6,7 m² y la construcción inteligente de la puerta de servicio permite una instalación flexible en un pequeño espacio de su laboratorio de medición.


Medir e inspeccionar piezas grandes

Uso más eficiente del espacio.
Con el fin de aprovechar al máximo su espacio en su laboratorio de medición, ampliamos el volumen de medición al tiempo que reducimos el equilibrio. Mida e inspeccione piezas de 1500 mm de altura en 6,7 m²: la mejor relación entre sistema y volumen de piezas disponible en el mercado.


Resultados de medición fiables

Tecnología probada para alta precisión.
Los sistemas de posicionamiento proporcionan un movimiento altamente preciso de la pieza en todo el campo de visión garantizando un MPESD de 4.5 + L / 50 μm en referencia a la hoja 1.3 de VDI / VDE 2630.


                      Voxel size 2k: 72.1 μm                                                                                                        Voxel size 3k:46.7 μm

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