ZEISS Spectrum

Mejore la fiabilidad de sus resultados de medición

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¿Necesita cumplir el plan de producción de sus empresas? ¿Debe satisfacer los índices de crecimiento? ¿No tiene tiempo para gestionar las quejas y la baja productividad causadas por fallos en la detección de errores de las piezas defectuosas?

Con la nueva ZEISS SPECTRUM pasará al siguiente nivel de seguridad y productividad. Confíe en sus piezas aumentando la fiabilidad de los resultados de medición. Mejore la fiabilidad de sus resultados de medición.

Detección COMPLETA de fallos. Cero retornos causados por errores de calidad

En pocos pasos y sin ninguna preparación prolongada, ZEISS COMET está listo para su uso, lo que le permite concentrarse en la medición.

Mejore su seguridad

Con la nueva máquina de medición por coordenadas ZEISS SPECTRUM obtendrá la máxima calidad en tecnología punta con un MPE-E0 de 1,9+L/250 para todos los tamaños de máquina. Además, la tecnología de escaneo de ZEISS VAST XXT le permite encontrar errores de medición de forma para redondeces con un RONt de 1,8 µm para 5/5/6 y 1,9 µm para todos los tamaños. Ideal para la creciente demanda de una mejor calidad y productividad.

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Tecnología de escaneo incomparable

ZEISS SPECTRUM incluye varios sensores táctiles, como ZEISS VAST XXT y XDT. La función de escaneo de ZEISS VAST XXT se centra en la eficiencia y en unas mediciones más fiables: se obtienen datos informativos y de mayor calidad relacionados con la pieza a la cual se ha realizado la medición. Ofrece mayor fiabilidad y repetibilidad debido a la eliminación de errores de medición gracias a la medición de punto único.

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Confíe en sus piezas: detección de errores de alta resolución

La combinación de ZEISS VAST XXT y ZEIS RDS-C5 CAA aumenta la flexibilidad y reduce enormemente el tiempo de funcionamiento de las mediciones. También permite un gran abanico de tareas de medición para piezas aún más complejas.            

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Ahorro de tiempo y costes. Acelere su eficiencia

Única en su gama: el RDS con precisión asistida por ordenador (CAA) permite la interpolación de la calificación de posicionamiento con unos 5184 ángulos posibles. Ofrece más posiciones para la rotación del cabezal de la sonda, reduce el tiempo de calibración y aumenta espectacularmente el tiempo de funcionamiento. Los sensores de escaneo también vienen con la función CAA y acortan el tiempo de cualificación hasta 12 veces más rápido de lo que es habitual: aproximadamente 12 minutos para una cualificación completa y 5 minutos para una recualificación.     

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Estable. Duradera. Fiable.

Precisión debida a su calidad de construcción:

  • Estructura con bastidor rígido y trípode real
  • Envoltura completa de la estructura de los cojinetes de aire
  • Protección contra terremotos integrada
  • Básculas de cerámica de vidrio patentadas con mínima dilatación térmica

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Ahorro de tiempo y costes. Acelere su eficiencia

El controlador de mochila está especialmente diseñado para que ocupe un espacio reducido. Además de su sistema de amortiguación pasiva, la ZEISS SPECTRUM contiene una maquinaria excelente, perfecta para la obtención de unos resultados de medición fiables.


Única en su gama: el RDS con precisión asistida por ordenador (CAA) permite la interpolación de la calificación de posicionamiento con unos 5184 ángulos posibles. Ofrece más posiciones para la rotación del cabezal de la sonda, reduce el tiempo de calibración y aumenta espectacularmente el tiempo de funcionamiento. Los sensores de escaneo también vienen con la función CAA y acortan el tiempo de cualificación hasta 12 veces más rápido de lo que es habitual: aproximadamente 12 minutos para una cualificación completa y 5 minutos para una recualificación.

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ZEISS DotScan es idóneo para capturar superficies de forma libre e incluso estructuras minúsculas. Los sensores cromáticos de luz blanca, ZEISS DotScan incluido, también son el método elegido especialmente cuando los palpadores o sensores de cámara llegan a su límite en superficies sensibles, blandas, reflectantes o de bajo contraste. ZEISS DotScan permite escanear superficies muy reflectantes, como componentes metálicos en implantes de rodilla, sin necesidad de inyectar medio de contraste. De esta forma también se pueden distinguir superficies lacadas transparentes de otras capas metálicas subyacentes.

Solicite más información sobre ZEISS Comet

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