[Nuevo] ZEISS Metrotom 1500

Mediciones de Rayos X en 3D para el Control de Calidad

La familia ZEISS METROTOM ofrece tecnología de TC confiable para el control de calidad durante doce años. La tercera generación del sistema de tomografía computarizada (TC) ZEISS METROTOM 1500 proporciona la mejor prueba de que la tecnología avanzada y confiable de rayos X ya no es una visión del futuro. Puede probar su control de calidad en el futuro, hoy.

Con un sistema de tomografía computarizada industrial de ZEISS, usted mismo puede realizar con éxito trabajos de medición e inspección con solo un escaneo de rayos X. La prueba de aceptación estándar, la ingeniería de precisión y el sofisticado proceso de calibración aseguran la trazabilidad del sistema. Las guías lineales y la mesa giratoria satisfacen las más altas exigencias de precisión de los clientes.

Mejor calidad de Imagen

Gracias a un detector 3k de alta resolución.
Descubre incluso pequeños detalles con alta resolución. Un objeto con 15 cm de diámetro se puede reconstruir con un tamaño de voxel de 50 μm.

Mayor velocidad de escaneo

El tiempo de escaneo puede reducirse masivamente por diferentes modos de operación del detector hasta en un 75% con un tamaño de voxel comparable.

Diseño inteligente

Más pequeño, flexible, inteligente.
La huella reducida de solo 6,7 m² y la construcción inteligente de la puerta de servicio permite una instalación flexible en un pequeño espacio de su laboratorio de medición.

Medir e inspeccionar piezas grandes

Uso más eficiente del espacio.
Con el fin de aprovechar al máximo su espacio en su laboratorio de medición, ampliamos el volumen de medición al tiempo que reducimos el equilibrio. Mida e inspeccione piezas de 1500 mm de altura en 6,7 m²: la mejor relación entre sistema y volumen de piezas disponible en el mercado.

Resultados de medición fiables

Tecnología probada para alta precisión.
Los sistemas de posicionamiento proporcionan un movimiento altamente preciso de la pieza en todo el campo de visión garantizando un MPESD de 4.5 + L / 50 μm en referencia a la hoja 1.3 de VDI / VDE 2630.

12 news - december .jpg

PLACEHOLDER FOR A SECOND HEADLINE

ZEISS DotScan es idóneo para capturar superficies de forma libre e incluso estructuras minúsculas. Los sensores cromáticos de luz blanca, ZEISS DotScan incluido, también son el método elegido especialmente cuando los palpadores o sensores de cámara llegan a su límite en superficies sensibles, blandas, reflectantes o de bajo contraste. ZEISS DotScan permite escanear superficies muy reflectantes, como componentes metálicos en implantes de rodilla, sin necesidad de inyectar medio de contraste. De esta forma también se pueden distinguir superficies lacadas transparentes de otras capas metálicas subyacentes.

Solicite más información sobre ZEISS Metrotom 1500

Nombre:

Email:

Apellidos:

Teléfono:

Empresa:

Puesto:

País:

Ciudad

Comentarios:

BG:

Source Details:

Language:

Source Name:

SAP Qualification Level:

SAP Source:

2 Columns / image left - form right

Optional image caption

PLACEHOLDER FOR THE REGISTRATION FORM

2 Columns / form left - image right

PLACEHOLDER FOR THE REGISTRATION FORM

Optional image caption

2 Columns / text left - form right - HEADING

SUB HEADLINE

PLACEHOLDER FOR THE REGISTRATION FORM

2 Columns / form left - text right

PLACEHOLDER FOR THE FORM

SUB HEADLINE

Duis autem vel eum iriure dolor in hendrerit in vulputate velit esse molestie consequat, vel illum dolore eu feugiat nulla facilisis at vero eros et accumsan et iusto odio dignissim qui blandit praesent luptatum zzril delenit augue duis dolore te feugait nulla facilisi. Lorem ipsum dolor sit amet,