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【定員に達したため受付終了】

ZEISS × Oxford Instruments共催

最新電池不良解析ワークショップ

X線顕微鏡×FIB-SEM×SEM-Raman 相関顕微鏡

定員人数に達したため受付を終了させていただきました。
追加でご希望の方へは当日の様子を別途ウェブで放映予定です。
後日配信されるメールよりご登録ください。

2023年12月5日（火）、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社とカールツァイス株式会社は、「最新電池不良解析」をテーマとしたジョイントワークショップを開催します。電池サンプルを用いたX線顕微鏡による高分解能非破壊３D観察により不良対象の座標特定、さらにフェムト秒Laserを搭載したFIB-SEMへの座標相関による高速/精密加工により断面研磨を施し、最新EDS/Raman解析による異物同定化を短時間で可能にします。これまで膨大な時間を要してトライエラーを繰り返してきた不良解析現場に対して、最先端技術を結集してお届けします。次の時代の不良解析をこの目でご覧ください。

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プログラム（若干変更の可能性有）

ZEISS × Fischione共催最新エレクトロニクス解析ワークショップ

最表面ダメージレス加工/SEM Mill → 極低加速電圧&高分解能観察/GeminiSEM

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【全2回】工業用顕微鏡ワークショップ開催のお知らせ

2023年11～12月にかけて当社東京本社にて、全2回の工業用顕微鏡のワークショップを開催いたします。各回でテーマが異なりますのでご興味をお持ちの回にご参加いただければ幸いです。

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開催概要

・開催日時：2023年12月5日（火）13:00 ~ 17:30　※その後懇親会もご用意しています
・開催場所：カールツァイス株式会社　東京本社
　〒102-0083 東京都千代田区麹町2丁目10番9号住友不動産麹町ビル4号館
・参加費：無料
※定員になり次第受付終了とさせていただきます。
　右側のフォームよりお早めにお申込みください。

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使用歴5年　東京大学　大竹准教授の活用事例

ZEISS METROTOMを使用して5年になる東京大学工学系研究科大竹豊准教授に、活用事例や装置への評価、今後の展望について語って頂きました。 X線CT選定の参考に是非ご活用ください。

ZEISS × Oxford Instruments共催最新電池不良解析ワークショップ

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使用歴5年 東京大学 大竹准教授の活用事例

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